Гинзбург В.М. Голография Методы и аппаратура. Страница 147
где е — заряд электрона; I — среднее значение тока; M — коэффициент усиления по току; k — постоянная Больцмана; T — абсолютная температура.
Размер апертуры диафрагмы AS не должен превышать размера элемента дискретизации в изображении. Ограничением увеличения амплитуды колебаний (d) диафрагмы является существующая асимметрия изображения относительно плоскости фокусировки. Действительно, если в отличие от симметричной аппроксимации распределение интенсивности по глубине изображения в области, прилегающей к плоскости фокусировки, аппроксимировать несимметричной функцией, например, вида I (г) = /Мако (1 — Az2 + Bz) (где А и В — коэффициенты аппроксимации), то, проведя преобразования аналогично тем, которые были выполнены при получении выражения (5.43), получим
В этом случае положение плоскости фокусировки определяется с дополнительной ошибкой А2д = = В /2А, которая будет зависеть от асимметрии в изображении и будет проявляться тем больше, чем больше амплитуда колебаний диафрагмы. Воспользовавшись полученными соотношениями, определим ошибку в измерениях методом колеблющейся диафрагмы изображения объекта с рассеянием света по закону Ламберта и поверхности, рассеивающей свет по закону, аппроксимированному выражением IUmauc = cos РД + b tg2P) с использованием в качестве фотоприемника ФЭУ-27. Для закона Ламберта распределение интенсивности аппроксимируется параболической зависимостью с коэффициентом Л = 4,5/а2; для матового стекла радиусом рА =0,07/р2.
Экспериментально измеренный уровень шума на выходе ФЭУ-27, освещенного когерентным излучением лазера типа ЛГ-36, составлял 450 мкВ, причем в основном он определялся низкочастотными составляющими излучения лазера. Нагрузка ФЭУ R = 4 кОм; полоса пропускания усилителя А/ = 5 Гц; в соответствии с (5.44) при п = 1 величина порогового значения Az = 2- IO-2 (p/d) — для экспериментально определенной индикатрисы пропускания (рис. 5.13) и Az = = 3-10-4 (a2/d) — для случая рассеяния света объектом по закону Ламберта. Сравнение этих результатов показывает, что ошибка измерений существенно зависит от рассеивающих свойств поверхности зарегистрированного объекта и от размера поверхности.
