53. Boone Р. М. Determination of three ortohonal displacement components from one double-exposure hologram. — «Optik», 1973, v. 37, № 1.

54. Власов H. Г., П p e с н я к о в Ю. П., Смирнова С. Н. Выделение отдельных компонент вектора деформации в интерференционных измерениях. — «ЖТФ». 1973, № 5.

55. Mayer Q. М. Vibration phase measurement by rotationstrobe holography. — «J. Appl. Phys.»., 1969, v. 40, № 7.

56. Q о r і F., Quattari G. Time-ordered double-exposure holography». — «Opt. commun., 1972, v. 5, p. 359—369.

57. Archbold E., Burch J. M., Ennos A. E. Recording of in-plane surface displacement by double-exposure speckle photography. — «Optica Acta», 1970, v. 17, № 12.

58. A г с h b о 1 d E., Ennos A. E. Displacement measurement from double- exposure laser photographs. — «Optica Acta», 1972, -v. 19, № 4.

59. Leendertz J. A. Interferometric displacement measurement on scatering surfaces utilizing speckle effects. — «J. Sci. Instrum.», 1970, v. 3, №2.

К главе 8

1. Голографическая аппаратура. —«Метрология», 1971, №9. Авт.: Е. А. Антонов, В. М. Гинзбург, А. А. Золотарев и др.

2. Интерферометрический стол «СИН» для получения и исследования голограмм.— «Оптико-механическая промышленность», 1971, № 8, Авт.: Р. Р. Герке, Ю- Н. Денисюк, В. Л. Казак и др.

3. Brindahl 0., Shearing Interferometry. — «Progress in Optics», 1965, v. 4, p. 38—81.

4. Власов H. Г., Пресняков Ю. П. Интерферометрия сдвига диффузно отражающих объектов. — «Квантовая электроника», 1973, № 2 (14), 80—83.

5. Власов Н. Г. Классификация методов голографической интерферометрии в зависимости от диффузных элементов в исследуемых объектах и освещающих их источниках. — «ЖТФ», 1970, т. 40, № 8.

6. Jahoda F. С.,Jeffries R. A., Sawyer G. A. Fractional fringe holographic plasma interferometry. — «Appl. Opt.», 1967, v. 6, № 8.